Vytisknout
1. Quantitative X-ray diffractometry
Quantitative X-ray diffractometry / Lev S. Zevin, Giora Kimmel ; edited by Inez Mureinik. New York : Springer, 1995. xvii, 372 s. Lok/dislok | Absenčně | Vypůjčené | Rezervované | Prezenčně | Nedostupné | Pouze k rezervaci |
---|---|---|---|---|---|---|
PRF | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 0 |