Vytisknout
1. Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy. New York : Springer, [2018] ©2018. xxiii, 550 stran | Lok/dislok | Absenčně | Vypůjčené | Rezervované | Prezenčně | Nedostupné | Pouze k rezervaci |
|---|---|---|---|---|---|---|
| FF | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |