Košík

  Odznačit vybrané:   0
  1. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp.    Berlin :  Springer,  c2006 . xii, 292 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    LF000100
  Odznačit vybrané:   0