Košík

  Odznačit vybrané:   0

  1.  

      Půjčit
    Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching : application to rough and natural surfaces / G. Kaupp.    Berlin :  Springer,  c2006 . xii, 292 s.
          Lok/dislok       Absenčně Vypůjčené Rezervované Prezenčně Nedostupné Pouze k rezervaci
    LF000100
    Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching

    kniha

      Půjčit

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše