Košík

  Odznačit vybrané:   0
  1. Conductive atomic force microscopy : applications in nanomaterials / edited by Mario Lanza..    Weinheim :  Wiley-VCH,  2017. . 1 online resource (250 pages)
    Plný text pro studenty a zaměstnance UPOL
    kniha

    kniha


  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.