Počet záznamů: 1
difrakce rentgenového záření
SYS d014961 LBL 01932nz--a2200337n--4500 003 CZ-PrNML 005 20240206162307.5 008 990101-n-ancnnbaba----------||-ana-----d 035 $a (DNLM)D014961 040 $a ABA008 $b cze $f czmesh 072 $a E05. $x 196. $x 309. $x 742 072 $a E05. $x 196. $x 822. $x 950 072 $a G01. $x 867. $x 950 072 $a G02. $x 965 150 $a difrakce rentgenového záření $2 czmesh 450 $w i $a difrakce rentgenových paprsků $i UF 450 $w i $a ohyb rentgenových paprsků $i UF 450 $w i $a rentgenová difrakce $i UF 450 $w i $a rentgenové paprsky - difrakce $i UF 450 $w i $a Xray Diffraction $i UF 550 $w g $a chemické jevy $7 upol_us_auth*d055598 550 $w g $a krystalografie $7 upol_us_auth*d003461 550 $w g $a radiační rozptyl $7 upol_us_auth*d012542 550 $w h $a krystalografie rentgenová $7 upol_us_auth*d018360 667 $a application to study of crystal structure = CRYSTALLOGRAPHY, X-RAY; for SAXS (small angle X-ray scattering) coordinate with SCATTERING, SMALL ANGLE 680 $i Při dopadu rentgenového záření na hmotu se elektrony v obalech atomů rozkmitají s frekvencí odpovídající vlnové délce záření. Kmitající elektrony se stávají zdrojem sekundárního rentgenového záření, které se od nich šíří všemi směry. Důsledkem interference těchto parciálních vlnění je za jistých okolností zesílení rozptýleného rentgenového záření v určitých diskrétních směrech a zrušení v ostatních. Tento jev se nazývá difrakce, paprsky zesíleného záření se označují termínem reflexe. Metody rentgenové difrakční analýzy se používají především při studiu struktury materiálů. 688 $a 65(63) 750 -2
$a X-Ray Diffraction $2 czmesh 980 $x M 982 $a 1
Počet záznamů: 1