Počet záznamů: 1
Ritchie, Nicholas W. M
SYS 0333552 LBL -----cz--a22-----n--4500 003 CZ-OlKUP 005 20210921220329.6 008 200529|n|aznnnaabn-----------n-a|a------ 040 $a ABA013 $b cze $d ABA001 $e rda 100 1-
$a Ritchie, Nicholas W. M. 368 $d Ph.D. (Physics) $s 1994 368 $d B.A. (Physics) $s 1988 368 $d M.S. (Physics) $s 1991 370 $c Spojené státy americké 372 $a elektronová mikroskopie $a materiály $a rentgenové záření $a spektroskopie $a skenovací elektronová mikroskopie 373 $a National Institute of Standards and Technology (Spojené státy americké) $s 2004 374 $a fyzici $a vědci 375 $a muž 377 $a eng 400 1-
$a Ritchie, Nicholas $0 o 670 $a Goldstein, Joseph I. - Ritchie, Nicholas W. M. et al.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, c2018 $b afiliace 670 $a BLPC, cit. 2í. 5. 2020 $b autoritní forma 670 $a www(National Institute of Standards and Technology - NIST), cit. 29. 5. 2020 $b odkaz viz, profesní údaje 670 $a www(Nicholas Ritchie - NIST), cit. 29. 5. 2020 $b odkaz viz, profesní údaje 675 $a LC (Names), cit. 29. 5. 2020 678 0-
$a Fyzik, odborník v oboru elektronové mikroskopie a mikroanalýzy, působil v Aspex Corporation, od roku 2004 v National Institute of Standards and Technology; věnuje se vysokorychlostní automatizované analýze částic.
Počet záznamů: 1