Počet záznamů: 1  

Ritchie, Nicholas W. M

  1. Osobní jménoRitchie, Nicholas W. M.
    Jiná podoba jménaRitchie, Nicholas
    Jiné označení osoby(1994)
    (1988)
    (1991)
    TitulPh.D. (Physics), (1994)
    B.A. (Physics), (1988)
    M.S. (Physics), (1991)
    ZeměSpojené státy americké
    Oblast působeníelektronová mikroskopie
    materiály
    rentgenové záření
    spektroskopie
    skenovací elektronová mikroskopie
    Příslušnost k instituciNational Institute of Standards and Technology (Spojené státy americké) (2004)
    Profesefyzici
    vědci
    Pohlavímuž
    Jazykeng - angličtina
    BiografieFyzik, odborník v oboru elektronové mikroskopie a mikroanalýzy, působil v Aspex Corporation, od roku 2004 v National Institute of Standards and Technology; věnuje se vysokorychlostní automatizované analýze částic.
    Zdroj nalezených informacíGoldstein, Joseph I. - Ritchie, Nicholas W. M. et al.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis, c2018 (afiliace) ; BLPC, cit. 2í. 5. 2020 (autoritní forma) ; www(National Institute of Standards and Technology - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje) ; www(Nicholas Ritchie - NIST), cit. 29. 5. 2020 (odkaz viz, profesní údaje)
    Zdroj prověření s neg. výsl.LC (Names), cit. 29. 5. 2020
    DatabázeSoubor osobních jmen a jmen rodin (rodů)
    Odkazy (1) - Knihy
    osoba

    osoba

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše