Počet záznamů: 1
Speckle metrology
Údaje o názvu Speckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi Vyd.údaje New York : Marcel Dekker, c1993 Fyz.popis xiii, 551 s. : il. ISBN 0824789326 Edice Optical engineering; 38 Poznámka Obsahuje literaturu v textu Rejstřík Dal.odpovědnost Sirohi, R. S., 1943- (editor) Předmět.hesla technika technology * metrologie metrology * optika optics Konspekt 53 - Fyzika MDT 531.715:620.1 Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info N/A 3134018273 PřF PřF, Výzkumné centrum pro optiku pouze prezenčně
Počet záznamů: 1