Počet záznamů: 1  

Speckle metrology

  1. Údaje o názvuSpeckle metrology / edited by Rajpal S. Sirohi
    Vyd.údajeNew York : Marcel Dekker, c1993
    Fyz.popisxiii, 551 s. : il.
    ISBN0824789326
    Edice Optical engineering; 38
    PoznámkaObsahuje literaturu v textu
    Rejstřík
    Dal.odpovědnost Sirohi, R. S., 1943- (editor)
    Předmět.hesla technika technology * metrologie metrology * optika optics
    Konspekt53 - Fyzika
    MDT 531.715:620.1
    Země vyd.Spojené státy americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    N/A3134018273PřFPřF, Výzkumné centrum pro optikupouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.