Počet záznamů: 1
Fundamental principles of engineering nanometrology
Údaje o názvu Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach Osobní jméno Leach, R. K. (autor) Údaje o vydání 1st ed. Vyd.údaje Oxford : William Andrew, 2010 Fyz.popis xxvi, 321 s. : il. ISBN 978-0-08-096454-6 (váz.) Edice Micro & Nano Technologies Series Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Předmět.hesla nanotechnologie nanotechnology * mikrotechnologie microtechnology * metrologie metrology Forma, žánr monografie monographs Konspekt 62 - Technika všeobecně MDT 62-022.532 , 62-022.53 , 006.91 , (048.8) Země vyd. Velká Británie Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info F/583 (PřF) 3134029374 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1