Počet záznamů: 1  

objemová elektronová mikroskopie

  1. Věcné témaobjemová elektronová mikroskopie
    Odkaz viz.FIB-SEM (UF)
    Focused Ion Beam Scanning Electron Microscopy (UF)
    Focused Ion Beam SEM (UF)
    SBF-SEM (UF)
    Serial Block-Face Scanning Electron Microscopy (UF)
    Serial Block-Face SEM (UF)
    Serial Sectioning TEM (UF)
    Serial Sectioning Transmission Electron Microscopy (UF)
    ssTEM (UF)
    vEM Volume Electron Microscopy (UF)
    Volume EM (UF)
    Viz téželektronová mikroskopie
    počítačové zpracování obrazu
    PropojeníVolume Electron Microscopy
    KonspektE01. - 370. - 350. - 515. - 402. - 812
    E05. - 595. - 402. - 812
    L01. - 224. - 308. - 705
    PoznámkaTechniky elektronové mikroskopie určené k rekonstrukci 3D obrazů o mikrometrových rozměrech a s nanometrovým rozlišením. Objemová elektronová mikroskopie používá různé techniky k popisu, segmentaci a rekonstrukci 3D obrazů z vrstvených sekvenčních 2D obrazů přírůstkových ploch.
    DatabázeMESH
    Odkazy (2) - MESH
    předmětové heslo

    předmětové heslo

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.

Přijmout všeNastaveníOdmítnout vše