Počet záznamů: 1  

Scanning probe microscopy

  1. Údaje o názvuScanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer
    Osobní jméno Foster, Adam (autor)
    Vyd.údajeNew York : Springer, c2006
    Fyz.popisxiv, 281 s. : il.
    ISBN0387400907
    Edice Nanoscience and technology
    PoznámkaPod názvem: With 116 Figures
    Poznámky o skryté bibliografii a rejstřícíchObsahuje bibliografie a rejstřík
    Dal.odpovědnost Hofer, Werner (autor)
    Předmět.hesla fyzika tenkých vrstev physics of thin layers * skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanotechnologie nanotechnology * atomová spektroskopie atomic spectroscopy * molekulární spektroskopie molecular spectroscopy
    Konspekt53 - Fyzika
    MDT 53.086:004.352 , 57.086.2/.3 , 62-022.532 , 539.211
    Země vyd.Spojené státy americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    N/A3134023286PřFPřF, KEF - Mgr. Vůjtekpouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.