Počet záznamů: 1
Scanning probe microscopy
Údaje o názvu Scanning probe microscopy : atomic scale engineering by forces and currents / A. Foster, W. Hofer Osobní jméno Foster, Adam (autor) Vyd.údaje New York : Springer, c2006 Fyz.popis xiv, 281 s. : il. ISBN 0387400907 Edice Nanoscience and technology Poznámka Pod názvem: With 116 Figures Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie a rejstřík Dal.odpovědnost Hofer, Werner (autor) Předmět.hesla fyzika tenkých vrstev physics of thin layers * skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanotechnologie nanotechnology * atomová spektroskopie atomic spectroscopy * molekulární spektroskopie molecular spectroscopy Konspekt 53 - Fyzika MDT 53.086:004.352 , 57.086.2/.3 , 62-022.532 , 539.211 Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info N/A 3134023286 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1