Počet záznamů: 1
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Údaje o názvu Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy Osobní jméno Goldstein, Joseph, 1939- (autor) Údaje o vydání Fourth edition Nakladatel New York : Springer, [2018] Copyright ©2018 Fyz.popis xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné) ISBN 978-1-4939-6674-5 (vázáno) Poznámka extras online Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík Dal.odpovědnost Newbury, Dale E. (autor) Michael, Joseph R. (autor) Ritchie, Nicholas W. M. (autor) Scott, John Henry J. (autor) Joy, David C., 1943- (autor) Předmět.hesla mikroskopie microscopy * elektronová mikroskopie electron microscopy * mikroanalýza microanalysis * elektrony electrons Forma, žánr kolektivní monografie collective monographs * učebnice textbooks Konspekt 537 - Elektřina 37.016 - Učební osnovy. Vyučovací předměty. Učebnice MDT 53.086 , 57.086.3 , (048.8:082) , (075) , 681.723 , 537.533.35 , 543.063 , 539.124 , (048.8) Země vyd. Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info SNF392 (Sinofon) 3133503479 FF FF, Sinofon Doba výp. 14 dní
Počet záznamů: 1