Počet záznamů: 1
Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti
Údaje o názvu Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti [rukopis] / Matúš Ágh Další variantní názvy Určení parametrů jednoduché tenké vrstvy pomocí spektra odrazivosti Osobní jméno Ágh, Matúš (autor diplomové práce nebo disertace) Překl.náz Measurement of single thin layer parameters from reflectance spectrum Vyd.údaje 2015 Fyz.popis 47 strán (57,704 znakov) : il., grafy, schémata + CD ROM Poznámka Ved. práce Jan Podloucký Oponent Petr Pavlačík Dal.odpovědnost Podloucký, Jan (vedoucí diplomové práce nebo disertace) Pavlačík, Petr (oponent) Dal.odpovědnost Univerzita Palackého. Katedra optiky (udelovatel akademické hodnosti) Klíč.slova reflektancia * tenká vrstva * film * index lomu * optické parametre * reflectivity * thin film * refractive index * optical parameters Forma, žánr bakalářské práce bachelor's theses MDT (043)378.22 Země vyd. Česko Jazyk dok. slovenština Druh dok. PUBLIKAČNÍ ČINNOST Titul Bc. Studijní program Bakalářský Studijní program Fyzika Studijní obor Digitální a přístrojová optika kniha
Kvalifikační práce Staženo Velikost datum zpřístupnění 00194129-621444406.pdf 207 1.1 MB 07.05.2015 Posudek Typ posudku 00194129-ved-837723183.pdf Posudek vedoucího 00194129-opon-774727716.pdf Posudek oponenta Průběh obhajoby datum zadání datum odevzdání datum obhajoby přidělená hodnocení typ hodnocení 00194129-prubeh-481836742.pdf 31.07.2013 07.05.2015 17.06.2015 1 Hodnocení známkou
Táto práca sa venuje meraniu odrazivosti rovinných plôch pomocou spektrálneho fotometru a ďalej je popísané využitie týchto meraní pre výpočet parametrov jednoduchej neabsorbujúcej tenkej vrstvy. Výpočet parametrov bol riešený iteračnou metódou v dvoch krokoch. Algoritmus riešenia bol naprogramovaný v prostredí Matlabu. Programovací kód, v ktorom boli výpočty prevedené, je v záverečnej kapitole uvedený a podrobne popísaný.This thesis deals with measuring reflectance of planar surfaces using spectral photometer and with calculation of optical parameters of single non-absorbing thin layer on the basis of reflectance measurements. Two-step iteration method was used to calculate thickness and refractive index. Computational algorithm was programmed in Matlab environment. Source code used for final computing is shown and thoroughly described in the last chapter.
Počet záznamů: 1