Počet záznamů: 1
Optická elipsometrie
Údaje o názvu Optická elipsometrie [rukopis] / Tomáš Horák Další variantní názvy Optická elipsometrie Osobní jméno Horák, Tomáš (autor diplomové práce nebo disertace) Překl.náz Optical Ellipsometry Vyd.údaje 2016 Fyz.popis 49 (55 203 znaků) + 1 CD s bakalářskou prací Poznámka Ved. práce Jan Podloucký Oponent Josef Kapitán Dal.odpovědnost Podloucký, Jan (vedoucí diplomové práce nebo disertace) Kapitán, Josef (oponent) Dal.odpovědnost Univerzita Palackého. Katedra optiky (udelovatel akademické hodnosti) Klíč.slova Elipsometrie * elipsometr LEOI-44 * analyzátor * polarizátor * tenká vrstva * index lomu * Ellipsometry * LEOI-44 Ellipsometer * Analyzer * Polarizer * Thin film * refractive index Forma, žánr bakalářské práce bachelor's theses MDT (043)378.22 Země vyd. Česko Jazyk dok. čeština Druh dok. PUBLIKAČNÍ ČINNOST Titul Bc. Studijní program Bakalářský Studijní program Fyzika Studijní obor Digitální a přístrojová optika 
kniha
Kvalifikační práce Staženo Velikost datum zpřístupnění 00195320-840034144.pdf 38 4.1 MB 17.05.2016 Posudek Typ posudku 00195320-ved-895209418.pdf Posudek vedoucího 00195320-opon-356326250.pdf Posudek oponenta Průběh obhajoby datum zadání datum odevzdání datum obhajoby přidělená hodnocení typ hodnocení 00195320-prubeh-924337498.pdf 18.12.2014 17.05.2016 15.06.2016 2 Hodnocení známkou
Tato práce se věnuje určení tloušťky tenké vrstvy metodou nulové elipsometrie na elipsometru LEOI-44. Za pomocí dvou sad úhlů nastavení polarizátoru a analyzátoru jsme schopni touto metodou zjistit výslednou tloušťku tenké vrstvy na substrátu.Calculation of thin film thickness on the base of null ellipsometry method with LEOI-44 Ellipsometer is carried out in this thesis. Two sets of angular setting of polarizer and analyzer allow to find refractive index and thickness values in the model of single homogenous layer.
Počet záznamů: 1