Počet záznamů: 1  

Optická elipsometrie

  1. Údaje o názvuOptická elipsometrie [rukopis] / Tomáš Horák
    Další variantní názvyOptická elipsometrie
    Osobní jméno Horák, Tomáš (autor diplomové práce nebo disertace)
    Překl.názOptical Ellipsometry
    Vyd.údaje2016
    Fyz.popis49 (55 203 znaků) + 1 CD s bakalářskou prací
    PoznámkaVed. práce Jan Podloucký
    Oponent Josef Kapitán
    Dal.odpovědnost Podloucký, Jan (vedoucí diplomové práce nebo disertace)
    Kapitán, Josef (oponent)
    Dal.odpovědnost Univerzita Palackého. Katedra optiky (udelovatel akademické hodnosti)
    Klíč.slova Elipsometrie * elipsometr LEOI-44 * analyzátor * polarizátor * tenká vrstva * index lomu * Ellipsometry * LEOI-44 Ellipsometer * Analyzer * Polarizer * Thin film * refractive index
    Forma, žánr bakalářské práce bachelor's theses
    MDT (043)378.22
    Země vyd.Česko
    Jazyk dok.čeština
    Druh dok.PUBLIKAČNÍ ČINNOST
    TitulBc.
    Studijní programBakalářský
    Studijní programFyzika
    Studijní oborDigitální a přístrojová optika
    kniha

    kniha

    Kvalifikační práceStaženoVelikostdatum zpřístupnění
    00195320-840034144.pdf374.1 MB17.05.2016
    PosudekTyp posudku
    00195320-ved-895209418.pdfPosudek vedoucího
    00195320-opon-356326250.pdfPosudek oponenta
    Průběh obhajobydatum zadánídatum odevzdánídatum obhajobypřidělená hodnocenítyp hodnocení
    00195320-prubeh-924337498.pdf18.12.201417.05.201615.06.20162Hodnocení známkou

    Tato práce se věnuje určení tloušťky tenké vrstvy metodou nulové elipsometrie na elipsometru LEOI-44. Za pomocí dvou sad úhlů nastavení polarizátoru a analyzátoru jsme schopni touto metodou zjistit výslednou tloušťku tenké vrstvy na substrátu.Calculation of thin film thickness on the base of null ellipsometry method with LEOI-44 Ellipsometer is carried out in this thesis. Two sets of angular setting of polarizer and analyzer allow to find refractive index and thickness values in the model of single homogenous layer.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.