Počet záznamů: 1  

Měření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM

  1. Údaje o názvuMěření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM [rukopis] / Vítězslav Heger
    Další variantní názvyMěření nevodivých a nestandardních vzorků pro SEM
    Osobní jméno Heger, Vítězslav, (autor diplomové práce nebo disertace)
    Překl.názMeasurement of nonconductive and nonstandard samples using SEM
    Vyd.údaje2019
    Fyz.popis45 s.
    PoznámkaVed. práce Roman Kubínek
    Oponent Milan Vůjtek
    Dal.odpovědnost Kubínek, Roman, 1957- (vedoucí diplomové práce nebo disertace)
    Vůjtek, Milan (oponent)
    Dal.odpovědnost Univerzita Palackého. Katedra experimentální fyziky (udelovatel akademické hodnosti)
    Klíč.slova skenovací elektronový mikroskop * nevodivé vzorky * nestandardní vzorky * scaning electron microscopy * nonconductive samples * nonstandard samples
    Forma, žánr bakalářské práce bachelor's theses
    MDT (043)378.22
    Země vyd.Česko
    Jazyk dok.čeština
    Druh dok.PUBLIKAČNÍ ČINNOST
    TitulBc.
    Studijní programBakalářský
    Studijní programFyzika
    Studijní oborNanotechnologie
    kniha

    kniha

    Kvalifikační práceStaženoVelikostdatum zpřístupnění
    00232820-145371044.pdf3145.6 MB20.05.2019
    PosudekTyp posudku
    00232820-ved-889441853.pdfPosudek vedoucího
    00232820-opon-109775896.pdfPosudek oponenta

    Tato práce se zabývá skenovací elektronovou mikroskopií nevodivých a nestandardních vzorků. Popisuje základy elektronové mikroskopie a interakci elektronového svazku se vzorkem. Měření bylo prováděno na přístroji Tescan Vega 3 LMU. V experimentální části jsou na příkladech popsány závislosti parametrů mikroskopu a v příloze práce je umístěno několik snímků z měření.This bachelor thesis deals with scanning electron microscopy of non-conductive and non-standard samples. It describes fundamentals of electron microscopy and interaction of electron beam with sample. The measurement was performed on a Tescan Vega 3 LMU. The experimental part describes on the examples the dependence of the microscope parameters and the most successful pictures from the measurements are placed in the attachment.

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.