Počet záznamů: 1  

Applied scanning probe methods

  1. Údaje o názvuApplied scanning probe methods. III, Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.)
    Vyd.údajeHeidelberg ; Berlin ; New York : Springer Verlag, c2006
    Fyz.popisxliii, 378 s : il.
    ISBN978-35-4026-909-0
    Edice Nanoscience and technology
    PoznámkaLit. v textu
    Rejstř.
    Dal.odpovědnost Bhushan, Bharat, 1949- (editor)
    Fuchs, Harald, 1951- (editor)
    Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology
    Konspekt620.1/.2 - Nauka o materiálu
    MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 620.1 , 620.2-022.532 , 621.3.049.76
    Země vyd.Německo ; Spojené státy americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    F/897-3 (PřF)3134022823PřFPřF, KEF - Mgr. Vůjtekpouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.