Počet záznamů: 1  

Speckle metrology 2003

  1. Údaje o názvuSpeckle metrology 2003 : proceedings / editors Kay Gastinger, Ole Johan Lokberg, Svein Winther
    Záhlaví-korpor. Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (autor)
    Vyd.údajeBellingham : SPIE-The International Society for Optical Engineering, c2003
    Fyz.popisix, 390 s. : il.
    ISBN978-08-1944-728-9
    Edice SPIE; vol. 4933
    PoznámkaLit. v textu
    Rejstř. autor.
    Dal.odpovědnost Gastinger, Kay (editor)
    Lokberg, Ole Johan (editor)
    Winther, Svein (editor)
    Dal.odpovědnost The European Optical Society (Orsay) (jiná role)
    Dal.odpovědnost Speckle metrology (2003 : Trondheim, Norsko)
    Předmět.hesla technika technology * mezinárodní konference international conferences * metrologie metrology * optika optics
    Konspekt535 - Optika
    MDT 531.715:620.1 , 531.7(063)
    Země vyd.Spojené státy americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    N/A3134018854PřFPřF, Společná laboratoř optikypouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.