Počet záznamů: 1  

Reflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis

  1. Údaje o názvuReflection electron microscopy and spectroscopy for surface analysis / Zhong Lin Wang
    Osobní jméno Wang, Zhong Lin (autor)
    Vyd.údajeCambridge : Cambridge University Press, 1996
    Fyz.popisxix, 436 s. : il.
    ISBN0521482666 (váz.)
    PoznámkaLit.
    Rejstř. mater., věc.
    Předmět.hesla difrakce diffraction * fyzika povrchů pevných látek surfaces (physics) * elektronová mikroskopie electron microscopy * molekulární chemie molecular chemistry
    Konspekt53 - Fyzika
    MDT 537.533.35 , 538.971
    Země vyd.Velká Británie
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    N/A3134019626PřFPřF, Kat-fyzikální chemiepouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.