Počet záznamů: 1  

Multiple-beam interferometry of surfaces and films

  1. Údaje o názvuMultiple-beam interferometry of surfaces and films / by S. Tolansky
    Osobní jméno Tolansky, S. (autor)
    Údaje o vydání[1th ed.]
    Vyd.údajeShanghai : Huxi Shudian, 1948
    Fyz.popis187 s. : il.
    Edice Monographs on the physics and chemistry of materials
    PoznámkaLit.
    Rejstř.
    Předmět.hesla interferometrie interferometry * interferometrie interferometry * záření radiation
    MeSH interferometrie Interferometry
    Konspekt535 - Optika
    MDT 543.453 , 535.4
    Země vyd.Čína
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    56/35 (LF)3135021245LFLF Lékařská biofyzika, biometrie a informatikapouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.