Počet záznamů: 1
Multiple-beam interferometry of surfaces and films
Údaje o názvu Multiple-beam interferometry of surfaces and films / by S. Tolansky Osobní jméno Tolansky, S. (autor) Údaje o vydání [1th ed.] Vyd.údaje Shanghai : Huxi Shudian, 1948 Fyz.popis 187 s. : il. Edice Monographs on the physics and chemistry of materials Poznámka Lit. Rejstř. Předmět.hesla interferometrie interferometry * interferometrie interferometry * záření radiation MeSH interferometrie Interferometry Konspekt 535 - Optika MDT 543.453 , 535.4 Země vyd. Čína Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info 56/35 (LF) 3135021245 LF LF Lékařská biofyzika, biometrie a informatika pouze prezenčně
Počet záznamů: 1