Počet záznamů: 1  

Applied scanning probe methods

  1. Údaje o názvuApplied scanning probe methods. VIII, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori
    Vyd.údajeBerlin ; Heidelberg : Springer, c2008
    Fyz.popislix, 465 s. : il.
    ISBN9783540740797
    Edice Nanoscience and technology
    Poznámky o skryté bibliografii a rejstřícíchObsahuje bibliografické odkazy a rejstřík
    Dal.odpovědnost Bhushan, Bharat, 1949- (editor)
    Fuchs, Harald, 1951- (editor)
    Tomitori, M. (Masahiko) (editor)
    Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanostructure materials * nanotechnologie nanotechnology * průmysl industries
    Konspekt620.1/.2 - Nauka o materiálu
    MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 338.45:620.2-022.532 , 620.2-022.532
    Země vyd.Německo
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    F/897-8 (PřF)3134023346PřFPřF, KEF - Mgr. Vůjtekpouze prezenčně

Počet záznamů: 1