Počet záznamů: 1
Applied scanning probe methods
Údaje o názvu Applied scanning probe methods. VIII, Scanning probe microscopy techniques / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori Vyd.údaje Berlin ; Heidelberg : Springer, c2008 Fyz.popis lix, 465 s. : il. ISBN 9783540740797 Edice Nanoscience and technology Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografické odkazy a rejstřík Dal.odpovědnost Bhushan, Bharat, 1949- (editor) Fuchs, Harald, 1951- (editor) Tomitori, M. (Masahiko) (editor) Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology * průmysl industries Konspekt 620.1/.2 - Nauka o materiálu MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 338.45:620.2-022.532 , 620.2-022.532 Země vyd. Německo Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info F/897-8 (PřF) 3134023346 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1