Počet záznamů: 1
Applied scanning probe methods
Údaje o názvu Applied scanning probe methods. IX, Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Masahiko Tomitori Vyd.údaje Berlin ; Heidelberg : Springer, 2008c Fyz.popis lix, 387 s. : il. ISBN 9783540740827 Edice Nanoscience and technology Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografické odkazy a rejstřík Dal.odpovědnost Bhushan, Bharat, 1949- (editor) Fuchs, Harald, 1951- (editor) Tomitori, M. (Masahiko) (editor) Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology * průmysl industries Konspekt 620.1/.2 - Nauka o materiálu MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 338.45:620.2-022.532 , 620.2-022.532 Země vyd. Německo Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info PK/KEF/Vůjtek (PřF-KBO) 3134023347 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1