Počet záznamů: 1
Applied scanning probe methods
Údaje o názvu Applied scanning probe methods. III, Characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs (Eds.) Vyd.údaje Heidelberg ; Berlin ; New York : Springer Verlag, c2006 Fyz.popis xliii, 378 s : il. ISBN 978-35-4026-909-0 Edice Nanoscience and technology Poznámka Lit. v textu Rejstř. Dal.odpovědnost Bhushan, Bharat, 1949- (editor) Fuchs, Harald, 1951- (editor) Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology Konspekt 620.1/.2 - Nauka o materiálu MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 620.1 , 620.2-022.532 , 621.3.049.76 Země vyd. Německo ; Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info F/897-3 (PřF) 3134022823 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1