Počet záznamů: 1  

Applied scanning probe methods

  1. Údaje o názvuApplied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka
    Osobní jméno Bhushan, Bharat, 1949- (autor)
    Vyd.údajeBerlin ; Heidelberg ; New York : Springer Verlag, c2004
    Fyz.popisxx, 476 s. : il.
    ISBN978-35-4000-527-8
    Edice Nanoscience and technology
    PoznámkaLit. v textu
    Rejstř.
    Dal.odpovědnost Fuchs, Harald, 1951- (autor)
    Hosaka, Sumio (editor)
    Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology
    Konspekt620.1/.2 - Nauka o materiálu
    MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 620.1 , 620.2-022.532 , 621.3.049.76
    Země vyd.Německo ; Spojené státy americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    F/897-1 (PřF)3134022821PřFPřF, KEF - Mgr. Vůjtekpouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.