Počet záznamů: 1
Applied scanning probe methods
Údaje o názvu Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka Osobní jméno Bhushan, Bharat, 1949- (autor) Vyd.údaje Berlin ; Heidelberg ; New York : Springer Verlag, c2004 Fyz.popis xx, 476 s. : il. ISBN 978-35-4000-527-8 Edice Nanoscience and technology Poznámka Lit. v textu Rejstř. Dal.odpovědnost Fuchs, Harald, 1951- (autor) Hosaka, Sumio (editor) Předmět.hesla skenovací mikroskopie scanning probe microscopy * nanomateriály nanomaterials * nanotechnologie nanotechnology Konspekt 620.1/.2 - Nauka o materiálu MDT 53.086:004.352 , 62-022.532 , 620.1 , 620.2-022.532 , 621.3.049.76 Země vyd. Německo ; Spojené státy americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info F/897-1 (PřF) 3134022821 PřF PřF, KEF - Mgr. Vůjtek pouze prezenčně
Počet záznamů: 1