Počet záznamů: 1

Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis

Údaje o názvu	Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy
Osobní jméno	Goldstein, Joseph, 1939- (autor)
Údaje o vydání	Fourth edition
Nakladatel	New York : Springer, [2018]
Copyright	©2018
Fyz.popis	xxiii, 550 stran : ilustrace (převážně barevné)
ISBN	978-1-4939-6674-5 (vázáno)
Poznámka	extras online
Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících	Obsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík
Dal.odpovědnost	Newbury, Dale E. (autor)
	Michael, Joseph R. (autor)
	Ritchie, Nicholas W. M. (autor)
	Scott, John Henry J. (autor)
	Joy, David C., 1943- (autor)
Předmět.hesla	mikroskopie microscopy * elektronová mikroskopie electron microscopy * mikroanalýza microanalysis * elektrony electrons
Forma, žánr	kolektivní monografie collective monographs * učebnice textbooks
Konspekt	537 - Elektřina
	37.016 - Učební osnovy. Vyučovací předměty. Učebnice
MDT	53.086 , 57.086.3 , (048.8:082) , (075) , 681.723 , 537.533.35 , 543.063 , 539.124 , (048.8)
Země vyd.	Spojené státy americké
Jazyk dok.	angličtina
Druh dok.	Knihy

kniha

Signatura	Čár.kód	Lokace	Dislokace	Info
SNF392 (Sinofon)	3133503479	FF	FF, Sinofon	Doba výp. 14 dní

citace PRO

Počet záznamů: 1