Počet záznamů: 1
Kelvin probe force microscopy
Údaje o názvu Kelvin probe force microscopy : measuring and compensating electrostatic roces / Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors Nakladatel Berlin ; Heidelberg : Springer, [2012] Copyright ©2012 Fyz.popis xiv, 331 stran : ilustrace, grafy, schémata ISBN 978-3-642-22565-9 (vázáno) Edice Springer series in surface sciences ISSN 0931-5195 ; 48 Poznámka Pod názvem: With 189 figures Poznámky o skryté bibliografii a rejstřících Obsahuje bibliografie a rejstřík Dal.odpovědnost Sadewasser, Sascha (editor) Glatzel, Thilo, 1972- (editor) Předmět.hesla mikroskopie atomárních sil atomic force microscopy * povrchy surfaces * nauka o materiálu materials science Forma, žánr sborníky miscellanea Konspekt 53 - Fyzika MDT [53.086:004.352]:539.186 , 620.2 , 538.971 , 544.7 , (082) Země vyd. Německo Jazyk dok. angličtina Druh dok. Knihy 
kniha
Signatura Čár.kód Lokace Dislokace Info F/1258 (PřF) 3134045899 PřF PřF, KFC - doc. Ing. Pavel JELÍNEK Ph.D. pouze prezenčně
Počet záznamů: 1