Počet záznamů: 1  

Fundamental principles of engineering nanometrology

  1. Údaje o názvuFundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach
    Osobní jméno Leach, R. K. (autor)
    Údaje o vydání1st ed.
    Vyd.údajeOxford : William Andrew, 2010
    Fyz.popisxxvi, 321 s. : il.
    ISBN978-0-08-096454-6 (váz.)
    EdiceMicro & Nano Technologies Series
    Poznámky o skryté bibliografii a rejstřícíchObsahuje bibliografie, bibliografické odkazy a rejstřík
    Předmět.hesla nanotechnologie nanotechnology * mikrotechnologie microtechnology * metrologie metrology
    Forma, žánr monografie monographs
    Konspekt62 - Technika všeobecně
    MDT 62-022.532 , 62-022.53 , 006.91 , (048.8)
    Země vyd.Velká Británie
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.Knihy
    SignaturaČár.kódLokaceDislokaceInfo
    F/583 (PřF)3134029374PřFPřF, KEF - Mgr. Vůjtekpouze prezenčně

Počet záznamů: 1  

  Tyto stránky využívají soubory cookies, které usnadňují jejich prohlížení. Další informace o tom jak používáme cookies.